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名稱

低溫脆性試驗儀-半導體制冷

特點 低溫脆性試驗儀-半導體制冷試樣橡膠低溫脆性測定儀是測定硫化橡膠在規定條件下試樣受沖擊出現破壞時的Z高溫度,即為脆性溫度。
發布日期 2023-07-31
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  • 詳細(xi)內容(rong)

一、用途(tu)

單 試樣(yang)橡(xiang)膠低(di)溫(wen)脆性(xing)測(ce)定(ding)(ding)儀(yi)是(shi)測(ce)定(ding)(ding)硫化橡(xiang)膠在規定(ding)(ding)條(tiao)件下試樣(yang)受(shou)沖(chong)擊出現破(po)壞(huai)時的(de)(de)(de)(de)高溫(wen)度(du),即(ji)為脆性(xing)溫(wen)度(du)。可以(yi)對非硬質塑(su)料(liao)(liao)及其他彈性(xing)材(cai)料(liao)(liao)在低(di)溫(wen)條(tiao)件下的(de)(de)(de)(de)使(shi)用(yong)性(xing) 能(neng)作(zuo)比較性(xing)鑒定(ding)(ding)。可以(yi)測(ce)定(ding)(ding)不同橡(xiang)膠材(cai)料(liao)(liao)或(huo)不同配方的(de)(de)(de)(de)硫化橡(xiang)膠的(de)(de)(de)(de)脆性(xing)溫(wen)度(du)和低(di)溫(wen)性(xing)能(neng)的(de)(de)(de)(de)優劣。因(yin)此(ci)無(wu)論在科學研究材(cai)料(liao)(liao)及其制(zhi)品(pin)的(de)(de)(de)(de)質量檢驗。生產過程的(de)(de)(de)(de)控制(zhi)等方 面均是(shi)*的(de)(de)(de)(de)。本儀(yi)器是(shi)根(gen)據GB/T1682-94國家標(biao)準設計的,各項技術指(zhi)標(biao)符合國家標(biao)準的要求。

  • 技術參數

2.1試驗溫(wen)度(du):-600(正常1個半小(xiao)時)需要用水(shui)不斷(duan)循(xun)環降溫(wen)

2.2沖(chong)擊速(su)度:2m/s±0.2m/s

2.3恒(heng)溫后,試(shi)驗3min時間(jian)內溫度波(bo)動:<±1

2.4沖擊器(qi)(qi)中心到夾持器(qi)(qi)下端距離(li):11±0.5mm

2.5外型(xing)尺寸:720×700×1300mm

2.6功率:1100w

2.7冷井容積:700ml

2.8電源:220V

  • 結構(gou)原理

3.1升(sheng)降夾持(chi)器

升降夾(jia)(jia)持(chi)(chi)器由帶有(you)夾(jia)(jia)持(chi)(chi)器的氣缸和氣缸座組(zu)成

從(cong)試(shi)樣受沖擊部位,到夾持器(qi)下(xia)端的距離為11.0±0.5mm

3.2沖擊裝置(zhi)

沖(chong)(chong)擊裝置由(you)沖(chong)(chong)擊器(qi)和(he)沖(chong)(chong)擊氣缸組成

3.3沖擊器

沖擊器頭部形狀(zhuang)和尺寸符合GB1682標準規定(ding)。沖擊器(qi)的重量為(wei)200±20g,其工作行(xing)程為(wei)40±1mm。沖擊(ji)氣缸在復(fu)位狀態下,沖擊(ji)器端部到試樣(yang)的距離為(wei)25±1mm

3.4冷凍介質

通常(chang)使用工業乙醇

3.5本測(ce)定儀器采用半導體制冷。

四(si)、使用方法(fa)

4.1接通電源(yuan),溫控儀和(he)計(ji)時(shi)器(qi)顯示燈亮。

4.2向冷井中注入冷凍介質(一般為(wei)工業乙醇),其注入量應保證夾持器(qi)的下端到(dao)液面的距離為(wei)75±10mm

4.3將試(shi)(shi)樣垂直夾(jia)(jia)在夾(jia)(jia)持器上。夾(jia)(jia)的不宜過緊或過松,以防止試(shi)(shi)樣變形或脫落(luo)。

4.4達到試(shi)(shi)(shi)驗溫(wen)度后,按(an)下啟動按(an)鈕,試(shi)(shi)(shi)驗機自動工作(按(an)下夾(jia)持器(qi),開始(shi)冷(leng)(leng)凍(dong)(dong)試(shi)(shi)(shi)樣(yang),同(tong)時啟動時序控制開關或按(an)動秒表計時。試(shi)(shi)(shi)樣(yang)冷(leng)(leng)凍(dong)(dong)時間規(gui)定為(wei)3.0±0.5min。試樣冷凍期間,冷凍介質溫度波動不得(de)超過±1

4.5取下試樣(yang),將(jiang)試樣(yang)按沖擊(ji)方向彎(wan)曲(qu)成(cheng)180°,仔細(xi)觀察(cha)有無破壞。

4.6試(shi)樣經(jing)沖(chong)(chong)擊后(hou)(每個(ge)試(shi)樣只(zhi)準沖(chong)(chong)擊一(yi)次(ci)),如出(chu)現破壞時,應(ying)提高冷凍介(jie)質的溫度(du),否則降低其溫度(du),繼續進(jin)行試(shi)驗(yan)。

4.7溫度(du)調節(jie)方(fang)法:a、按set鍵,溫控儀進入設置狀態(tai)

  ;              b、按“<”鍵移(yi)動到要設置的(de)位置

          ;      c、按“∧”鍵調(diao)整溫度

                d、按“set”鍵確(que)定

通過反復試驗,確定(ding)至(zhi)少(shao)有兩(liang)(liang)個(ge)試樣不(bu)破壞(huai)的低溫(wen)度和(he)至(zhi)少(shao)一(yi)個(ge)試樣破壞(huai)的高溫(wen)度,如這兩(liang)(liang)個(ge)結(jie)果相(xiang)差不(bu)大于(yu)1時,即試驗結束。

  • 試驗標準(zhun)

5.1規格

試樣的長為25.0±0.5mm,寬為6.0±0.5mm,厚為2.0±0.3mm5.2要求

試樣的表面應光滑,無(wu)外來雜質及損傷。成(cheng)(cheng)品應經打磨后裁制(zhi)成(cheng)(cheng)相(xiang)應尺寸。

  • 注(zhu)意事項

6.1在試驗過程中不能(neng)切斷冷(leng)卻循(xun)環(huan),否則(ze)會(hui)產生不制冷(leng)的效果。

6.2氣缸(gang)壓(ya)力(li)在出廠前已調節好(hao),不能任(ren)意變動。

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